История развития теоретических основ управления качеством разработки и производства электронной техники специального назначения в современных условиях

Тип работы:
Реферат
Предмет:
Экономика
Страниц:
27

1100 Купить готовую работу
Узнать стоимость

Детальная информация о работе

Содержание

1. Зарубежный опыт развития теории управления надежностью и качеством электронных изделий специального назначения

2. Особенности становления и развития теоретических основ управления качеством разработки и производства электронной техники специального назначения в СССР и на постсоветском пространстве

3. Перспективные направления развития теории управления качеством разработки и производства электронной техники специального назначения

Заключение

Список литературы

1. Automotive and aviation industries. — Philadelphia: Chilton Co., 1947−1969. — Vol. 97, №. 1. — 141р

2. Intel® Core™ 2 Extreme Processor Х6800Д and Intel® Core™2 Duo Desktop Processor E6000 and E4000 Sequence. Specification Update / Фирма Intel. Май 2007 г. [Электронный ресурс] (http: // downloadcenter. intel. com/design/processor/specupdt/ 31 327 914. pdf

3. Maestro J. A. Fault Tolerant Single Error Correction Encoders / Maestro, J. A. Reviriego, P. Argyrides, C. Pradhan, D. K. — Journal of Electronic testing. — 2011. — Vol 27. — № 27. — Р. 215−218.

4. Royzman V. P., Lebed A. V. Theoretical and experimental analysis the humidity protective units of electrolytic and thin-film capacitors / Рroceedings of PCIM 2001 Conf.- Nuremberg, Germany.- 2001.- P. 382−387.

5. The Status of the Reliability Technology // RAC Jornal. — 1995. — Vol. 3, N 1. — P. 5−7; Coppola A. The Status of the Reliability Engineering Technology // Reliability Society Newsletter. — 1997. — N 43. — P. 7−9; Стрельников В. П. Состояние и перспективы теории и практики надежности // Надежность и долговечность машин и сооружений: Международный научно-технический сборник. — 2005. — Вып. 24. — С. 27−38.

6. Авербах В. И., Волкенштейн С. С., Школык С. Б. Метод лазерной фотоакустической диагностики качества монтажа кристаллов, сварных и паяных микросоединений в изделиях микроэлектроники и электронной техники // J. China Integrated Circuit. V. 64. 2004.

7. Герцбах И. Б., Кордонский Х. Б. Модели отказов (Библиотека инженера по надежности). — М.: Сов. Радио, 1966. — 402с.; Герцбах И. Б. Модели профилактики. — М.: Сов. Радио, 1968. — 367с

8. Гнеденко Б. В., Беляев Ю. К., Соловьев А. Д. Математические методы в теории надежности. — М.: Наука, 1965. — 540с.

9. Гуреева О. Транзисторная история, изобретение транзисторов и развитие полупроводниковой электроники / Гуреева О. // Компоненты и технологии. — 2006. — № 62. — С. 198−206.; Гольцова М. Перспективы развития электронии. Что год грядущий нам готовит? / Гольцова М. // Электроника: Наука, технология, бизнес. — 2008. — № 1. — С. 117−123; Федорашко Л. И. История электроники / Федорашко Л. И. // Автоматика. Информатика. — 2004. — Т. 1−2. — С. 86−91.

10.Д. Ллойд Надежность / Д. Ллойд, М. Липов. — М.: Сов. радио, 1964. — 668с.

11. Иванов Д. В. Современные принципы построения программного обеспечения бортовых и наземных программно-аппаратных комплексов // ОАО «Корпорация «Русские Системы». 2006 [Электронный ресурс] (http: //www. rusys. ru/docs/ Den/ article. pdf).

12. Каштанов В. А. Теория надежности сложных систем / Каштанов В. А., Медведев А.И.- Moscow: ООО Издательская фирма «Физико-математическая литература», 2009. — 608с.

13. Квапель Д. Тотальный контроль качества «в руках» контрактного производителя / Квапель Д. // Технологии в электронной промышленности. 2008. № 24. С. 45−47.

14. Методы контроля и диагностики скрытых дефектов в изделиях электроники / Хмыль А., Ланин В., Волкенштейн С. // Компоненты и технологии. 2010. № 103. С. 137−142.

15. Перроте А. И. Основы ускоренных испытаний на надёжность / Перроте А. И., Карташев Г. Д., Цветаев К. Н. — М.: Сов. Радио, 1968. — 221с.

16. Скрябин А. М. Способ организации процесса динамического тестирования программного обеспечения специализированного вычислителя / Скрябин А. М., Кардаш Д. И. // Вторая Всероссийск. науч. -техн. конф. с международным участием «Мехатроника, автоматизация, управление» (МАУ'2005): Сб. тр. Т. 2. 2005. C. 281−287. Скрябин А. М., Кардаш Д. И.

17. Хмелевская О. Качество начинается с входного контроля / Хмелевская О. // Электроника: Наука, технология, бизнес. — 2008. — № 5. — С. 82−85.

18. Хмель А. Методы контроля и диагностики скрытых дефектов в изделиях электроники / Хмыль А., Ланин В., Волкенштейн С. // Компоненты и технологии. — 2010. — № 103. — С. 137−142.

19. Широков А. М. Основы надежности и эксплуатации электронной аппаратуры. — Минск: Наука и техника, 1965. — 231с.

Заполнить форму текущей работой